HAST加速老化試驗箱
HAST加速老化試驗箱廣泛應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產(chǎn)品的耐壓力和氣密性進行測試。本文將深入探討HAST加速老化試驗箱的工作原理、技術(shù)優(yōu)勢、應用領(lǐng)域以及技術(shù)參數(shù)，以期為相關(guān)行業(yè)從業(yè)者提供有價值的參考。
一、HAST加速老化試驗箱的工作原理
HAST加速老化試驗箱，顧名思義，是一種通過高度加速的壓力測試來模擬產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的老化過程的設備。其核心在于創(chuàng)造一個高溫、高濕且壓力增強的環(huán)境，這種環(huán)境遠遠超出了常規(guī)使用環(huán)境，從而在較短時間內(nèi)暴露并加速產(chǎn)品的潛在缺陷，如材料老化、腐蝕、密封失效等。
具體而言，HAST試驗箱通過精密的加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)和壓力控制系統(tǒng)，將試驗室內(nèi)的溫度、濕度和壓力提升至預設水平。在這種條件下，樣品會經(jīng)歷快速的老化過程，其表現(xiàn)出的性能變化或失效模式能夠為研發(fā)人員提供寶貴的反饋，幫助他們優(yōu)化產(chǎn)品設計、改進生產(chǎn)工藝，并提升產(chǎn)品的整體質(zhì)量。
二、技術(shù)優(yōu)勢
1. 高效性：相比傳統(tǒng)老化測試方法，HAST試驗箱能夠在極短的時間內(nèi)完成產(chǎn)品的老化測試，顯著縮短研發(fā)周期和上市時間。
2. 全面性：通過模擬多種環(huán)境因素的組合，HAST試驗箱能夠更全面地評估產(chǎn)品的耐久性和可靠性，減少因環(huán)境適應性不足導致的市場退貨和維修成本。
3. 可重復性：高精度的控制系統(tǒng)確保了每次測試條件的穩(wěn)定性和一致性，使得測試結(jié)果具有較高的可重復性和可比性。
4. 安全性：試驗箱內(nèi)部采用多重安全防護措施，如超溫保護、超壓保護等，確保在測試過程中人員和設備的安全。
三、應用領(lǐng)域
1. 半導體封裝：在半導體封裝領(lǐng)域，HAST試驗箱被用于評估封裝材料的耐濕性、氣密性和熱應力性能，確保芯片在惡劣環(huán)境下的穩(wěn)定運行。
2. 汽車電子：汽車電子部件需承受復雜多變的汽車內(nèi)部環(huán)境，HAST試驗箱可模擬高溫高濕環(huán)境，測試汽車電子部件的耐久性和可靠性。
3. LED照明：LED燈具在使用過程中易受到溫濕度變化的影響，HAST試驗箱可模擬環(huán)境，檢測LED燈具的防水、防潮、防霉性能。
4. 醫(yī)療器械：醫(yī)療器械直接關(guān)系到患者的生命健康，其穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。HAST試驗箱可用于評估醫(yī)療器械在濕熱環(huán)境下的使用壽命和性能變化。
四、技術(shù)參數(shù)
設備型號： HE-HAST-40
圓形內(nèi)箱尺寸： 直徑Φ400×深500（mm）
溫度范圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫度 )
溫度波動度： ±0.5℃
溫度顯示精度： 0.1℃
濕度范圍： 70~100% 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度： ±3%RH
使用壓力： 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動均勻度： ±0.1Kg
時間范圍： 0 Hr～999Hr
加壓時間： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm² 約 45 分
控制器： PLC可程式彩色觸摸屏控制
內(nèi)桶材質(zhì)： SUS316#不銹鋼板
外箱材質(zhì)： SECC冷鋼板高溫烤漆處理
使用電源： 單相 220V 20A 50/60Hz
安全保護： 超壓保護，超溫保護，缺水保護等
水質(zhì)要求： 純水或蒸餾水（用戶自備）
